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杨正红先生出席第56届ISO/TC24/SC4标准化会议

发布日期:2019-04-30   浏览量:502

      彼奥德技术总监仪思奇(北京)科技发展有限公司总经理杨正红先生,杨正红先生作为中国代表团出席第56届ISO/TC24/SC4标准化会议,作为中国颗粒表征与分检及筛网标准化技术委员会委员(sac/tc168),参加中国代表团并出席本次会议,代表中国参加:

第3工作组(wg3,孔径分布和孔隙率)

第8工作组(wg8,图像法粒度分析)

第14工作组(wg14,超声法粒度分析)

第17工作组(wg17,zeta电位测定方法)

等相关领域的标准讨论和修订。

杨正红先生成为iso/tc24/sc4注册会员 

      杨正红先生在德国参加规模大的粉体机械加工及分析技术展(powtech 2019)之后,前往奥地利参加iso会议。

     会议期间,杨正红先生与iso官员dr.matthias thommes教授(埃尔朗根-纽伦堡大学,fau,图左)和dr.andrei dukhin(美国分散技术公司ceo,图左右)进行了学术交流,并就对中国用户的超声粒度分析应用支持达成一致。

 

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